簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "決策樹".ckeyword (精準) and ckeyword.raw="瑕疵檢測"


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    應用自動化光學檢測技術於發光二極體微觀瑕疵辨識系統之開發與研究
    • 自動化及控制研究所 /99/ 碩士
    • 研究生: 梁梓遠 指導教授: 郭中豐
    • 本研究主要針對發光二極體(Light Emitting Diode, LED)晶粒微觀瑕疵進行辨識與分類,本研究LED晶粒檢測分為三個部分,其檢測順序為LED晶粒外形檢測、LED晶粒電極區檢測以及L…
    • 點閱:226下載:1
    • 全文公開日期 2016/08/01 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

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    機器視覺應用於影像感測元件封裝製程中之玻璃蓋片瑕疵檢測與分類
    • 自動化及控制研究所 /100/ 碩士
    • 研究生: 王國興 指導教授: 郭中豐
    • 本研究主要針對影像感測元件封裝製程中之玻璃蓋片瑕疵進行檢測與分類。玻璃蓋片檢測分為兩個部分,分別為非光阻區檢測與光阻區檢測。非光阻區瑕疵有暗點、溶液殘留與刮傷,而光阻區有光阻殘缺與崩邊等瑕疵。 …
    • 點閱:208下載:4
    • 全文公開日期 2017/08/03 (校內網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (校外網路)
    • 全文公開日期 本全文未授權公開 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)
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